高阶全自动性能膜厚仪

T650 是一款匠心打造的细腻品质、高性能膜厚仪，采用微聚焦增强型射线管和数字多道脉冲信号处理技术，同时搭载全自动移动平台与变焦装置，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试的小部件。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1）微聚焦高集成垂直光路交换装置：前沿的光路聚焦系统设计，实现对微小测量点**、精准、稳定检测

2）搭载变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-85mm

3）搭载Si-pin探测器，分辨率*低至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，具有更高的稳定性和精度

4）镀层检测精度及稳定性可控制5%内

5）配备全自动移动平台：高精密移动平台，对多点检测时自动、快速精准定位

6）使用成本低：运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低

7）可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析

仪器参数

应用领域

l无损检测

在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织，整个测试过程无任何损伤。

l镀层分析

可分析单层、多层复合层、合金层、重复镀层厚度，满足Au/Ni/CuZn、NiP/Al、ZnNi/Fe、Cr/Ni/Cu/CuZn等镀层的检测要求

l应用行业

广泛应用于汽车零部件、线路板、军工、卫浴、电子元器件、线材、接插件、航空等行业

工作环境要求